美國科諾研制版本光學接觸角儀中標 "香港科技大學納米與材料研究院"。這是科諾產品推向應用用戶的一個新里程，也是對科諾產品的性能、技術、服務的一個肯定。

美國科諾將繼續(xù)加大亞太地區(qū)的研發(fā)投入，與廣大用戶和同行一起不斷提升光學法界面化學分析的關鍵技術，擴大界面化學分析儀器應用范圍。
比如，美國科諾已經在界面化學Young-lalapalace方程擬合技術上取得重大突破，不久就將引入第四代真實液滴法（TrueDrop） Y-L方程擬合求解界面張力、振蕩分析、接觸角分析的技術。這是一種突破，實現(xiàn)了由BA表*代擬合技術和1996年德國柏林理工大學的Spinger教授提出的基于“B”概念的Young-Lapalace方程擬合法的第二代擬合技術，至Newmann教授的龍格庫拉解法下的第三代擬合技術，向第四代基于真實液滴法（RealDrop^TM）法的Young-Lapalace擬合技術突破。第四代技術的關鍵點在于，我們將利用美國科諾強大的圖像分析技術，真正解決*代與第二代技術的經驗性假設誤差、第三代技術自動化程度的關鍵問題，從而提高了分析速度、重復性、人為因素影響等對界面張力測值的影響。此時，明顯的表現(xiàn)是，我們不再像第二代技術那種必須假設取得理想的B=0.7時需要根據經驗和估算界面張力值，選用相應針頭的問題。我們認為，界面張力測值與針頭的直徑的選取就是一個經驗判斷。這個判斷會造成相當的誤差與人為影響。